Przepraszamy! Ta strona nie została jeszcze przygotowana w Twoim języku, wyświetlamy zatem wersję angielską.
CCD wafer
CCD under inspection at the detector lab at the ESO Headquarters in Garching. This image was obtained in 1997.
Źródło:ESO/H.H.Heyer
O zdjęciu
| Identyfikator: | ccd-wafer_jun1997 |
| Typ: | Fotograficzny |
| Data publikacji: | 3 grudnia 2009 23:18 |
| Rozmiar: | 5079 x 3390 px |
O obiekcie
| Nazwa: | ESO HQ Garching |
| Typ: | Unspecified : Technology : Observatory : Instrument Unspecified : Technology : Observatory : Facility |
| Kategoria: | Premises |
