Ci scusiamo. Questa pagina non è ancora disponibile nella lingua scelta e perciò viene mostrata la versione originale.
CCD wafer
CCD under inspection at the detector lab at the ESO Headquarters in Garching. This image was obtained in 1997.
Crediti:ESO/H.H.Heyer
Riguardo l'immagine
| Identificazione: | ccd-wafer_jun1997 |
| Tipo: | Fotografico |
| Data di rilascio: | Giovedì 03 Dicembre 2009 23:18 |
| Grandezza: | 5079 x 3390 px |
Riguardo all'oggetto
| Nome: | ESO HQ Garching |
| Tipo: | Unspecified : Technology : Observatory : Instrument Unspecified : Technology : Observatory : Facility |
| Categoria: | Premises |
