¡Lo lamentamos! Esta página no está disponible en su lengua seleccionada, en su lugar le mostramos la versión original.
CCD wafer
CCD under inspection at the detector lab at the ESO Headquarters in Garching. This image was obtained in 1997.
Crédito:ESO/H.H.Heyer
Sobre la imagen
| Identificador: | ccd-wafer_jun1997 |
| Tipo: | Fotográfico |
| Fecha de publicación: | 3 de Diciembre de 2009 a las 23:18 |
| Tamaño: | 5079 x 3390 px |
Sobre el objeto
| Nombre: | ESO HQ Garching |
| Tipo: | Unspecified : Technology : Observatory : Instrument Unspecified : Technology : Observatory : Facility |
| Categoría: | Premises |
